仪器的误差影响着zui后的数据信息，那台式X荧光光谱仪的分析误差主要来自哪些方面呢。另外，X荧光光谱仪的荧光强度的变化对于分析也有影响，具体可以看下面。

X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面

1.采样误差：非均质材料、样品的代表性。

2.样品的制备：制样技术的稳定性、 产生均匀样品的技术。

3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内、标样元素测定值的准确度、标样与样品的稳定性。

4.仪器误差：计数的统计误差、样品的位置、灵敏度和漂移、 重现性。

5.不适当的定量数学模型：不正确的算法、元素间的干扰效应未经校正颗粒效应。 

台式X荧光光谱仪的分析误差

荧光强度问题

纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增强效应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。这些都是会直接影响到zui后的测量结果。颗粒的大小和强度的变化可以总结成以下。

强度与研磨时间的关系：

①粒度的减小，引起铁、硫、钾的强度减小，而使钙、硅的强度增加。

②随着粒度减小至某一点，强度趋于稳定。

③较低原子序数的元素的强度随粒度的减小有较大的变化。

以上就是本次关于说明X荧光的分析误差的来源。创想仪器GLMY，为您带来最新的资讯。