台式X荧光光谱仪在检测固体样品的时候，固体样品的表面是需要做处理的，原因，你可以往下看：

我们得到的固体样品有时候并不能代表整个样品块，这时候所必须要做的就是分析，是表面需要测试还是整个材料的分析，或者说是里外的材料都是要分析的。

另外，各个样品的表面结构和表面成分很难保证都相同。在进行表面处理时，可能带走夹杂物，致使该成分的分析结果偏低。表面可能被沾污或带上磨料，必须除去所有微量磨料、润滑剂和切割用的冷却剂。

被测样品表面进行预处理

使用氧化铝、碳化硅和氧化铈磨料时，样品表面可能会沾上这些元素。如果磨料是撒在包铅或包锡的抛光轮上，样品表面可能会沾上铅、锡这些元素。必须从样品表面除去氧化物和其他腐蚀物，而且需要有一定的光洁度。样品的光洁度直接影响测得的X 射线强度，一般光洁度越高强度越大。轻元素对此尤其敏感。像AlKα、MgKα等光洁度zui好在20~50μm，而短波重元素100μm 也能满足分析要求。

分析线的强度和研磨面的方向有关，入射线和出射线构成的平面和磨面研磨方向平行时吸收zui小，垂直时吸收zui大。采用样品旋转就能使这影响平均化。实质上，表面的光洁度不一样时入射的一次X 射线和荧光X 射线的光程随表面磨纹的粗细而改变。

所以说样品表面的处理是非常重要的。

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