利用X射线荧光检测，实际上是一种表面分析方法，激发只发生在样品的浅表面，所以我们需要注意分析面相对于整个样品是否有代表性。X荧光光谱所要测的样品实际是有很多物理形态的，包括了固体、粉末及液体形态。任何制样过程和步骤bi须有非常好的重复操作可能性，用于制作校准曲线的标准样品和分析样品bi须经过同样的制样处理过程，本篇主要列举以下注意点。

样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。

（1）固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。

（2）粉末样品 包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。

（3）液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。

样品制备的一般方法不同样品有不同的制样方法。金属样品如果大小形状合适，或者经过简单的切割达到X 荧光的要求，只需表面抛光，液体样品可以直接分析，大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。

样品制备

而在制备样品过程中，我们也需要注意样品的平均粒度和粒度分布是否有变化，样品中是否存在不均匀的多孔状态等。样品制备过程由于经过多步骤操作，还bi须防止样品的损失和沾污。