随着产品系列的增加，目前创想仪器研制并拥有自己的X荧光光谱仪。虽然此款仪器和火花直读光谱仪同样是测量样品中元素含量的分析仪器，但是本质上还是不同的：

一、两者分析原理

直读火花直读光谱仪是利用电弧（火花）的高温，使样品中的各种元素从固态直接汽化并激发而射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并打印出各元素的百分含量。

而X荧光光谱仪，顾名思义，是利用到X射线，当X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，进行定性和定量分析，这就是X荧光光谱仪，而根据采集数据方式的不同，又分为能量色散型（EDXRF）和波长色散型（WDXRF）。

火花直读光谱仪要求试样具有导电性，且只能是固体样品，具体地说就是火花直读光谱仪只能分析金属固体样品中的元素。

而X射线荧光光谱仪由计算机控制，自动化水平高，分析速度快，它对样品要求不高，可以分析粉末样品、固体样品、熔融样品、液体样品，不需要样品具有导电性，金属及非金属样品均可分析。

从这点来看，X荧光光谱仪适用范围更广。