X荧光光谱仪是一种应用广泛的仪器，那X荧光光谱仪基本参数法是什么？

X射线荧光光谱分析是一种引用非常广泛的化学成分分析手段，始于20世纪50年代初，至今在分析理论、方法、仪器和应用等方法都取得了长足的发展，尤其是基本参数法进入实用阶段后，X射线荧光光谱定量分析依赖相似标样的情况得到改善，使X射线荧光光谱分析不仅成为化学分析实验室的常用方法，而且在现场分析、在线分析以及非破坏分析上发挥着重要的作用，是其他方法无法替代的。

基本参数法的理论基础是谱线强度和元素浓度之间的理论关系，也就是说，根据测量的谱线强度和测量条件，就可以计算出待测元素的浓度。所以，基本参数法从理论上说，是不需要相似标样的，只需要用样品对仪器因子进行校正，这样的样品可以使纯元素样品，也可以使多元样品。早期的基本参数法因为计算机的速度不够快，理论强度计算模型不完善，X射线管原级谱强度分布的测定或计算不够准确，以及用于理论强度计算的一些基本参数误差较大等原因，造成分析结果不够准确，因此产生了理论影响系数法。

理论影响系数法是采用一定的数学校正方程和一些列理论计算的系数来校正元素间的吸收-增强的方法。理论影响系数法中理论强度的计算仅在计算理论影响系数时计算一次，因而可以大大节省计算时间，但是理论影响系数法仍需少量相似标样校正基体。由于计算理论影响系数时需要用基本参数计算理论强度，所以理论影响系数法也归入基本参数法的范畴。

一种合金钢的荧光X射线谱

随着计算机技术的快速发展，个人计算机无论运算速度还是介个都完全能满足基本参数法在线运行的需要，记上荧光强度的理论公式的不断完善、基本参数和X射线管原级谱强度分布计算准确度不断提高，使基本参数法的准确度不断改进。所以近年来基本参数法的应用有了长足的进步，并被多数商业软件所采用，特别是在无标样定量分析、半定量分析以及多层膜成分和厚度的同时测定中的应用非常成功。

X荧光光谱仪基本参数法，为进一步完善，研究人员还在不断的探索中。