X荧光光谱仪分析检测方法是一种应用相当广泛的仪器,无论对于固体、液体、粉末,更甚至于对空气也可进行检测分析。
关于对X荧光光谱仪的分析方法,它是可以定性定量分析的方法。
X荧光光谱仪定性分析。不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光X射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长入,从而确定元素成份。对于能量色散型光谱仪,可以由通道来判别能量,从而确定是何种元素及成份。
X荧光光谱仪定量分。X射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100\%时,该元素的荧光X射线的强度。
X荧光光谱仪的多种检测
X荧光光谱仪样品制备。进行x射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。无论什么样品,样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差;化学组成相同,热处理过程不同的样品,得到的计数率也不同;成份不均匀的金属试样要重熔,快速冷却后车成圆片;对表面不平的样品要打磨抛光;对于粉末样品,要研磨至300目-400目,然后压成圆片,也可以放入样品槽中测定。
对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面,则可以把试样用酸溶解,再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上,用红外灯蒸干水份后测定,也可以密封在样品槽中。总之,所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐蚀性溶剂。
使用X荧光光谱仪对样品进行分析的检测,是一种广泛应用的方法。