X荧光光谱分析中，能量色散和波长色散X荧光光谱仪是两种原理不太相同的仪器。

波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）是用晶体分光而后由探测器接收经过行射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变行射角，便可获得样品内各种无素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性分析和定量分析。

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，得到的波谱或能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，WDXRF（波谱）与WD-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。

X荧光光谱仪的电子元器件检测

原理区别

X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。

结构区别

波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的術射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要大，一般为2~3千瓦。但X射线管的效率很低，只有1%的电功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光仪的区别在于它不用分光晶体。

能量色散X荧光光谱仪与波长色散X荧光光谱仪原理、结构均有所不同，但各有优点，选择一款合适自己的产品。